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科思特CS150M點蝕電位測試儀功能方法
穩態極化:開路電位測量(OCP)、恒電位極化(I-t曲線)、恒電流極化、動電位掃描(TAFEL曲線)、動電流掃描(DGP)
暫態極化:任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、多電位階躍(VSTEP)、多電流階躍(ISTEP)
伏安分析:線性掃描伏安法(LSV)#、線性循環伏安法(CV)、
腐蝕測量:動電位再活化法(EPR)、電化學噪聲(EN)、電偶腐蝕測量(ZRA)、晶間腐蝕
電池測試:電池充放電測試、恒電流充放電
擴展測量:圓盤電極測試
科思特CS150M點蝕電位測試儀硬件參數指標
恒電位控制范圍:±10V |
恒電流控制范圍:±2.0A |
電位靈敏度:10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) |
電流靈敏度:1pA |
電位控制精度:0.1%×滿量程讀數±1mV |
電流控制精度:0.1%×滿量程讀數 |
槽壓輸出:±21V (可擴展至±200V) |
電流掃描增量:1mA @1A/mS |
參比電極輸入阻抗:1012Ω||20pF |
較大輸出電流:2.0A |
CA和CC脈沖寬度:0.0001~65000s |
DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s |
CV和LSV掃描速度:0.001mV~10000V/s |
電位掃描電位增量:0.076mV @1V/mS |
電位上升時間:﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) |
電流量程:2nA~2A, 共10檔 |
SWV頻率:0.001~100KHz |
CV的較小電位增量:0.075mV |
DA分辨率:16bit,建立時間:1μS |
低通濾波器 :8段可編程 |
AD數據采集:16bit@1MHz,20bit @1KHz |
電流與電位量程:自動設置 |
通訊接口:USB2.0 |
儀器重量:6.5Kg |
外形尺寸(cm):36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) |
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科思特CS150M點蝕電位測試儀配置:
儀器主機1臺
電源線/USB數據線各1條
CorrTest測試與分析軟件1套
電極電纜線(含噪聲測量線)1條
模擬電解池1個(儀器自檢器件)
關鍵詞:武漢科思特、科思特CS150M、CS150M點蝕電位測試儀、點蝕電位測試儀、科思特CS150M點蝕電位測試儀